飛納臺式掃描電鏡不僅有用杰出的硬件和精巧的設計，采用高亮度、強信號、壽命為1500h的CeB6燈絲，集成彩色光學顯微鏡用于彩色導航，配合原裝全自動馬達樣品臺使用，點擊哪里，看到哪里，設計緊湊，*防震；更有強大的軟件拓展功能，飛納電鏡顆粒統計分析測量系統，飛納電鏡纖維統計分析測量系統，飛納電鏡孔徑統計分析測量系統，飛納電鏡3D粗糙度重建，高倍超大視野全景拼圖，遠程聯網檢測等。為交流國內外顆粒學研究與技術的進展，每兩年一屆的“中國顆粒學會學術年會暨海峽兩岸顆粒技術研討會”于2016年8月12－14日（8月12日報到）在四川省成都市舉辦，會期2天。本屆會議由中國顆粒學會主辦，中國顆粒學會超微顆粒專委會協辦。飛納臺式掃描電鏡贊助并出席中國顆粒學會第九屆學術年會。
飛納臺式掃描電鏡顆粒統計分析測量系統自動識別統計顆粒
客戶現場參觀試用飛納臺式掃描電鏡
飛納臺式掃描電鏡放大倍數13萬倍，分辨率突破10nm，使用的CeB6燈絲可以顯著提升掃描電鏡的成像質量，優異的硬件為飛納電鏡的軟件開發打下了堅實的基礎。飛納電鏡顆粒測量系統（PhenomParticleMetric）是基于飛納臺式掃描電鏡的顆粒分析系統，用于實現顆粒可視化分析，由飛納電鏡的制造商荷蘭Phenom-World公司歷經三年研發，于2013年11月1日在荷蘭發布，目前仍不斷更新升級，飛納電鏡對所用用戶所使用的軟件升級都是免費的。
飛納電鏡顆粒系統適用的領域有化妝品，食品，化工，制藥，陶瓷等行業；顆粒狀狀添加劑；環境顆粒；過濾、篩網等。可對100nm~0.1mm尺寸范圍內的顆粒進行分析，顆粒探測速度高達1000個/分鐘，測量顆粒的大小，形狀，數量等屬性。給出顆粒眾多的參數值，例如面積，當量直徑，外接圓直徑，比表面積，周長，寬高比，表面積，充實度，伸長率，灰度等級，長軸長度和短軸長度，凸殼體，重心，像素點數，凸狀物。并根據實際需要生散點統計圖和柱狀統計圖。
中國顆粒學會第九屆學術年會代表證
